調節和聚焦掃描電鏡（SEM）的電子束是確保高質量圖像和準確分析的關鍵步驟。以下是具體的方法和步驟：

1. 準備工作

樣品準備

清潔樣品：確保樣品表面干凈。

固定樣品：將樣品牢固地固定在樣品臺上，避免在操作過程中移動。

導電處理：對于非導電樣品，進行導電涂層處理（如金、鉑涂層）以減少充電效應。

2. 設備設置

啟動 SEM

啟動設備：按照設備操作手冊啟動 SEM，并進行必要的系統檢查。

真空度：確保樣品腔和槍腔的真空度達到要求。

選擇加速電壓

低電壓：適用于生物樣品和絕緣材料，減少充電效應和樣品損傷。

高電壓：適用于金屬和導電材料，提供更高的分辨率。

3. 電子束調節

電子槍設置

電子槍類型：根據具體的樣品和成像要求，選擇適當的電子槍類型（如鎢燈絲、場發射槍）。

槍電流：設置適當的槍電流，以確保穩定的電子束發射。

聚光鏡調整

粗調聚光鏡：使用粗調聚光鏡將電子束初步聚焦到樣品表面。

精調聚光鏡：進一步調整聚光鏡，使電子束更加集中，提高成像質量。

4. 掃描參數設置

掃描速度

慢速掃描：用于高分辨率成像和細節觀察。

快速掃描：用于初步觀察和大面積掃描。

工作距離

短工作距離：提供更高的分辨率，但需要更高的樣品傾斜角度。

長工作距離：適用于較大樣品和較低分辨率要求的成像。

5. 電子束聚焦

初步聚焦

低倍率聚焦：選擇較低的放大倍率（如100x-500x），初步聚焦電子束。

粗調焦距：使用粗調焦距旋鈕，將樣品表面初步成像。

高倍率聚焦

高倍率細調：逐步提高放大倍率（如1000x-5000x），進行細調聚焦。

細調焦距：使用細調焦距旋鈕，將樣品細節清晰呈現。

調整消像散

消像散器：使用消像散器（Stigmator），調整電子束的形狀，減少像散效應。

橫向消像散：調節橫向消像散控制，使水平線條清晰。

縱向消像散：調節縱向消像散控制，使垂直線條清晰。

6. 調整對比度和亮度

對比度調整

提高對比度：在圖像較暗時，提高對比度，使細節更加明顯。

降低對比度：在圖像較亮時，降低對比度，避免過曝。

亮度調整

增加亮度：在圖像較暗時，增加亮度，使整體圖像更加清晰。

減少亮度：在圖像較亮時，減少亮度，防止圖像飽和。

7. 高分辨率成像

高分辨率設置

高分辨率模式：選擇 SEM 的高分辨率模式，進一步提高成像質量。

優化參數：根據具體樣品和成像要求，優化所有參數（如加速電壓、工作距離、掃描速度等）。

圖像捕捉

調整參數：在成像之前，進行參數調整，以確保圖像質量。

保存圖像：捕捉并保存高分辨率圖像，用于后續分析。

8. 維護和保養

定期維護

清潔電子槍：定期清潔電子槍和聚光鏡，以確保電子束的穩定性和成像質量。

更換燈絲：根據使用情況，定期更換電子槍燈絲，保持高效的電子束發射。

校準設備

設備校準：定期校準 SEM 設備，確保成像參數的準確性和穩定性。

軟件更新：及時更新 SEM 控制軟件，獲取新功能和優化。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡電子束的調節與聚焦方法的介紹。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢