9月6日，第24屆中國國際光電博覽會與2023深圳國際電池技術(shù)展覽會將在深圳舉行，BCEIA2023第二十屆北京分析測試學(xué)術(shù)報告會暨展覽會將在北京舉行，澤攸科技將攜一眾先進(jìn)科學(xué)儀器，及微納技術(shù)領(lǐng)域行業(yè)解決方案，誠邀您共赴盛會！

圖. 中國國際光電博覽會展館分布

圖. 深圳國際電池技術(shù)展覽會展館分布

圖. 北京BCEIA2023展館分布

澤攸科技是一家具有完全自主知識產(chǎn)權(quán)的先進(jìn)科學(xué)儀器公司，專注于研發(fā)、生產(chǎn)和銷售原位電鏡解決方案、掃描電鏡整機(jī)、臺階儀、探針臺等科學(xué)儀器，立志成為具有國際先進(jìn)水平的材料表征測量儀器及半導(dǎo)體加工科學(xué)儀器制造商。目前，公司有包括PicoFemto系列原位TEM/SEM測量系統(tǒng)、ZEM系列臺式掃描電鏡、JS系列臺階儀等在類的多個產(chǎn)品線，在國內(nèi)外均獲得了高度關(guān)注。

ZEM系列臺式掃描電鏡同時兼具成像質(zhì)量和便攜性，加速電壓可以連續(xù)調(diào)節(jié)，可同時搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式能譜儀及多種原位樣品臺，擁有多項(xiàng)自主創(chuàng)新技術(shù)，滿足不同實(shí)驗(yàn)及檢測需求，應(yīng)用領(lǐng)域廣泛。

PicoFemto系列原位TEM測量系統(tǒng)是將光、電、力、熱、冷凍、液體、氣氛等功能集成到透射電鏡內(nèi)，將您的透射電鏡打造成功能強(qiáng)大的納米實(shí)驗(yàn)室。

PicoFemto系列原位SEM測量系統(tǒng)是將拉伸、納米壓痕、低溫、液體、氣體等復(fù)雜的測試模塊集成進(jìn)掃描電鏡，大大提高您掃描電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域。

澤攸科技JS系列高精度臺階儀是公司自主研發(fā)的國產(chǎn)臺階儀。突破核心技術(shù)-大行程超精密平面掃描-70mm，優(yōu)于20nm/2mm；大帶寬大行程納米微動臺-80um，10kHZ；超微壓力恒定控制，0.5mN-15mN，打破了國外壟斷的局面，是半導(dǎo)體國產(chǎn)化進(jìn)程中不可或缺的一環(huán)。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的三會相約┃9月6日澤攸科技攜科學(xué)儀器亮相深圳光博會、深圳電池展、北京BCEIA2023。