掃描電鏡樣品太大放不進(jìn)去怎么辦？

當(dāng)掃描電鏡（SEM）樣品太大、無(wú)法放入樣品艙時(shí)，可以通過(guò)以下幾種方式解決或繞開(kāi)限制：

掃描電鏡可以檢測(cè)金屬表面缺陷嗎？

掃描電鏡（SEM）可以非常有效地檢測(cè)金屬表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其適用于微米甚至納米級(jí)別的缺陷觀察。

掃描電鏡（SEM）圖像在放大后出現(xiàn)模糊，是較常見(jiàn)的問(wèn)題，影響微納米結(jié)構(gòu)觀察的清晰度與分辨率。

掃描電鏡（SEM）圖像出現(xiàn)抖動(dòng)（flickering / jittering），是一種常見(jiàn)但令人困擾的問(wèn)題，圖像可能表現(xiàn)為輕微跳動(dòng)、震蕩或邊緣模糊，影響成像質(zhì)量和精度。

掃描電鏡（SEM）中樣品在腔內(nèi)出現(xiàn)“漂移”現(xiàn)象，通常表現(xiàn)為圖像位置緩慢移動(dòng)或無(wú)法穩(wěn)定對(duì)焦，嚴(yán)重時(shí)甚至圖像模糊、重影。

掃描電鏡（SEM）圖像突然變黑，意味著探測(cè)器沒(méi)有接收到足夠的信號(hào)或信號(hào)完全喪失。

掃描電鏡（SEM）成像過(guò)程中圖像“漂移”是指圖像在連續(xù)掃描時(shí)緩慢移動(dòng)、扭曲或者抖動(dòng)，這會(huì)嚴(yán)重影響圖像清晰度與可重復(fù)性。

掃描電鏡（SEM）圖像上出現(xiàn)條紋或亮點(diǎn)的原因可能有多種。