掃描電鏡（SEM）在成像過程中對樣品表面狀態非常敏感，樣品表面不平整（如高低起伏、傾斜、凹凸不平）會對圖像質量和分析結果產生多個方面的負面影響：

1. 圖像失焦、局部模糊

由于 SEM 的焦距是固定的，表面高度不一會使部分區域超出焦平面；

結果是：只有一部分區域清晰，其他區域模糊或無法聚焦；

特別是在高放大倍率下，這種現象更加明顯。

2. 成像畸變

當表面傾斜或起伏劇烈時，電子束入射角度變化；

會導致圖像比例失真、邊緣拉伸或壓縮，甚至出現幾何變形；

特別是在測量微結構尺寸時，會影響準確性。

3. 信號收集不均，圖像亮度不一致

表面不平整導致二次電子或背散射電子發射方向不同；

會造成圖像中某些區域亮度增強或變暗，產生不自然的對比差異；

影響細節識別和表面結構分析。

4. 帶電效應加劇

不平整樣品上存在尖銳邊緣或突起部位，易聚集電荷；

結果是圖像出現漂移、噪聲、閃爍或不規則亮點；

尤其在未鍍膜的絕緣樣品上更為明顯。

5. 限制合適的工作距離和放大倍率

不平整樣品會導致某些區域過近或過遠于物鏡極柱；

高倍率下容易發生焦點難以統一，甚至發生碰撞風險；

會迫使你不得不選用較長工作距離、較低倍率，影響成像質量。

6. 影響能譜分析（EDS）準確性

高低起伏影響探測器的入射角度和信號路徑；

導致元素峰值強度波動、空間分布不清晰，甚至錯判含量；

特別是在表面傾斜部位，EDS 會出現陰影效應或信號遮擋。

7. 難以進行3D建模或表面分析

若需利用圖像進行表面重構、紋理分析、深度測量等，高低不平會降低數據一致性與精度。