掃描電鏡（SEM）圖像出現亮度不均，一般說明系統內部或操作設置上出現了問題。常見原因和對應處理方法可以從以下幾個方面入手排查和解決：

1. 樣品問題

樣品表面不平整或高低起伏大，導致電子束入射角變化，造成不同區域的信號強弱差異。

嘗試重新調整樣品姿態，保證待觀察區域盡量平整并與電子束垂直。

樣品導電性差，局部積累電荷（充電效應），導致亮度漂移或局部過亮/過暗。

可以對樣品表面噴金或碳鍍膜，提高表面導電性，抑制充電。

2. 電子束設置問題

束流太大，容易引發局部充電或電子束過熱，造成圖像某些地方發白。

適當降低束流（減小光闌孔徑或降低槍電流）。

加速電壓設置不合理，如果電壓過低，入射電子易受表面電荷影響；電壓過高，樣品易被擊穿。

根據樣品材質調整合適的加速電壓，通常導電樣品高電壓，絕緣樣品低電壓。

3. 探測器或信號問題

探測器角度不當，導致收集電子量不均。

調整探測器角度或切換不同探測器（如SE、BSE），使信號接收更均勻。

探測器老化、污染，導致接收效率下降或局部失靈。

檢查探測器狀態并清潔，如必要聯系維修更換。

4. 校準與光學系統問題

電子束對中不良，束斑中心偏移，導致畫面邊緣亮度下降。

使用系統的“Gun Alignment”或“Beam Alignment”功能進行重新對中。

掃描校準錯誤，導致信號增益隨掃描位置變化。

重新進行掃描幅度和增益的校準。

5. 設備環境問題

電源波動或地線干擾，造成信號不穩定，亮度變化。

檢查供電，必要時加裝穩壓電源或UPS。

機身受潮或污染，特別是探測器區域。

保持設備環境干燥清潔，并定期進行內部維護。