在掃描電鏡（SEM）中，調整襯度（Contrast）和亮度（Brightness）對于增強樣品的細節非常重要，尤其是在觀察低對比度或高動態范圍的樣品時。調整的方法如下：

1. 了解襯度與亮度的作用

亮度（Brightness）：控制整體圖像的平均灰度值，相當于調整曝光量，使圖像變亮或變暗。

襯度（Contrast）：調整圖像的灰度范圍，使明暗區域的區分更加明顯，增強細節。

2. 通過 SEM 的軟件界面調整

手動調整：在 SEM 控制軟件中，通常有 Brightness 和 Contrast 的滑動條或數值調整選項，可以手動調節。

自動優化：

許多現代 SEM 具備**自動亮度和對比度（Auto Brightness/Contrast）**功能，建議作為初步調整的方法。

適用于快速優化，但可能不適用于所有樣品。

3. 調整亮度和襯度的方法

從默認設置開始：避免直接調整到極端值，以免丟失細節。

增大襯度可增強細節，但避免過度：

適用于低對比度樣品（如生物樣品、聚合物）。

過高的襯度會導致灰度過渡變得過于劇烈，丟失部分信息。

降低亮度可減少背景噪聲：

亮度過高可能導致過曝光，使某些區域的細節丟失。

適當降低亮度可以增強暗部細節，但過低可能導致圖像偏暗，影響可視性。

4. 結合其他 SEM 參數優化

調整探測器類型：

SE（二次電子）探測器：適用于觀察表面形貌，通常需要較高的襯度。

BSE（背散射電子）探測器：適用于成分對比，通常調整較低的襯度以避免信號過強。

降低束流電流（Beam Current）：

高束流可能導致圖像飽和，適當降低可減少信號過強的情況。

調整工作距離（WD, Working Distance）：

增加 WD 可能會影響信號的強度，需要相應調整亮度和對比度。

5. 觀察不同區域并調整

動態調整：在觀察不同樣品區域時，可能需要重新調整亮度和襯度。

避免過度調整：過高的襯度可能導致偽影或噪聲增強，而過低的襯度可能使細節丟失。

以上就是澤攸科技小編分享的如何在掃描電鏡中調整襯度和亮度以增強細節。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢