掃描電鏡（SEM）中的電子束與樣品之間的相互作用是影響成像質量的關鍵因素。電子束與樣品的相互作用會產生多種物理現象，這些現象直接影響到成像的分辨率、對比度、圖像的細節以及信號的強度。主要的相互作用包括：

1. 二次電子（SE）發射

作用：電子束與樣品表面相互作用時，激發出一些低能量的二次電子（Secondary Electrons, SE）。這些二次電子從樣品表面逸出，并被 SEM 探測器收集。二次電子的數量和分布直接影響表面形貌的成像。

影響：二次電子成像能提供較高的表面分辨率，并且對于非導電材料尤其有效。表面越粗糙或不規則，二次電子的發射就越強，因此可以顯現出細節豐富的表面形貌。

2. 反射電子（BSE）發射

作用：當電子束與樣品的較深層相互作用時，一部分電子會被樣品原子核反射回來，這些反射電子稱為反射電子（Backscattered Electrons, BSE）。BSE 的能量較高，通常反射的角度和樣品的原子序數（Z值）有關。

影響：反射電子成像提供的是樣品的元素對比度，較高 Z 值的元素（如金屬）通常會反射更多的電子，因此反射電子圖像可以顯示出樣品的元素分布，幫助區分不同材料和元素。

3. X射線發射（能譜分析）

作用：當電子束撞擊樣品時，電子束的能量可以使樣品中的原子內層電子被激發并脫離軌道，導致原子內部的電子空位被外層電子填補，從而釋放出特征性 X 射線。X 射線的能量與樣品中的元素和化學組成有關。

影響：通過能譜分析（EDS, Energy Dispersive X-ray Spectroscopy），可以獲得樣品中不同元素的分布和濃度信息。雖然 X 射線并不直接影響 SEM 圖像，但它可以與 SEM 成像聯合使用，提供更豐富的化學成分信息。

4. 電子束穿透深度

作用：電子束在樣品中的穿透深度與樣品的導電性、密度以及原子序數（Z值）相關。在導電樣品上，電子束可以穿透較深的區域，而在非導電樣品上，電子束的穿透能力較弱。

影響：樣品的形態和厚度會影響電子束的穿透深度和電子與樣品的相互作用層深度，從而影響圖像的清晰度和分辨率。較厚的樣品可能會導致信號衰減或圖像模糊。

5. 電子束散射

作用：電子束在樣品內部的散射會導致信號的損失和成像分辨率的下降。散射現象包括彈性散射和非彈性散射，其中彈性散射主要由樣品的原子核引起，非彈性散射則由電子與樣品中的原子發生能量交換引起。

影響：散射不僅會降低圖像的分辨率，還可能影響二次電子和反射電子的收集，導致成像對比度的降低。為了減少散射帶來的影響，通常需要調整加速電壓和掃描條件。

6. 電子束聚焦和掃描條件

作用：電子束的聚焦程度和掃描方式直接影響成像的分辨率。加速電壓、聚焦透鏡、掃描速度等參數都能影響電子束的束斑大小和掃描效果。

影響：較高的加速電壓可以使電子束穿透更深的樣品，但也可能導致更強的散射，影響圖像分辨率。較低的電壓則有助于提高表面分辨率，但穿透能力減弱。

7. 樣品的導電性

作用：在掃描電鏡中，非導電材料容易積累靜電，這會影響電子束的穩定性和成像質量。為了減少這種影響，通常需要給樣品進行金屬鍍膜（如金或鋁鍍膜），以提供導電性。

影響：導電性差的樣品容易產生靜電效應，導致圖像失真、亮度不均等問題。鍍膜后，電子束可以更穩定地與樣品相互作用，從而獲得更清晰的圖像。

8. 樣品的表面形態和結構

作用：樣品的表面形態、粗糙度、孔隙率等結構特征會影響二次電子的發射特性，從而影響圖像的對比度和分辨率。

影響：如果樣品表面非常平滑或均勻，可能會導致信號較弱，影響圖像對比度。表面不平整的樣品則能發射更多的二次電子，從而提供更強的信號和更好的圖像質量。

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡中的電子束和樣品間的相互作用是如何影響成像的。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢