透射電鏡（TEM）和臺式掃描電鏡（SEM）是兩種常用的電子顯微鏡，它們在成像原理和應用方面有著顯著的差異。

透射電鏡 (TEM)：

成像原理：透射電鏡通過將電子束穿過樣品并收集通過樣品的電子來形成圖像。樣品被制成很薄的切片，通常在納米到微米的厚度范圍內。電子束在樣品中與原子發生相互作用，其傳輸過程受到樣品內部結構的影響，從而產生高分辨率的二維投影圖像。

應用：透射電鏡常用于研究生物學、材料科學、納米科學等領域，可以觀察到原子尺度上的細節結構，如晶體排列、原子間距等。

臺式掃描電鏡 (SEM)：

成像原理：臺式掃描電鏡則通過掃描電子束在樣品表面上的反射或二次電子發射來生成圖像。電子束在樣品表面掃描，與樣品表面的原子和分子相互作用，產生出反射電子、散射電子以及二次電子等。這些信號被收集和轉換成圖像，從而形成樣品表面的三維外觀。

應用：SEM廣泛應用于材料科學、生物學、地質學等領域，能夠提供高分辨率的表面形貌信息，如紋理、形貌、表面粗糙度等。

因此，透射電鏡和臺式掃描電鏡在成像原理、適用范圍和分辨率等方面存在顯著差異，各自在不同領域有著獨特的應用優勢。

以上就是澤攸科技小編分享的透射電鏡與臺式掃描電鏡不同的成像原理。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢