掃描電鏡（SEM）在樣品方面有一些要求和限制，這些因素可以影響成像質量和分析的可行性。以下是一些常見的掃描電鏡樣品的要求和限制：

樣品要求：

導電性： 樣品需要具有一定的導電性，因為電子束在與樣品相互作用時需要產生信號。非導電性樣品可能需要進行導電性處理，例如金屬涂覆。

干燥狀態(tài)： 樣品應處于干燥狀態(tài)，因為水分會干擾電子束的傳播，導致圖像模糊。濕潤的樣品可能需要在真空中進行處理。

表面平整： 掃描電鏡對樣品表面的平整度較為敏感。表面不平整或凹凸不平的樣品可能導致成像失真。

大小： 樣品的大小應適中，以確保在掃描電鏡中獲得清晰的圖像。過小或過大的樣品可能不適合SEM的操作。

樣品限制：

非導電性樣品： 非導電性樣品可能需要導電性處理，以避免電荷積聚和成像問題。

生物樣品： 生物樣品通常需要進行特殊處理，如冷凍干燥或金屬涂覆，以保持其形狀和結構，并提高導電性。

易揮發(fā)性樣品： 易揮發(fā)性物質可能在真空條件下失去，影響成像結果。

磁性樣品： 磁性樣品可能受到電子束的影響，導致成像畸變。在一些情況下，需要進行去磁處理。

光學透明樣品： 光學透明的材料對電子束不產生足夠的信號，因此在SEM中不容易成像。通常需要使用金屬涂覆或其他處理來增加導電性。

ZEM20臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡對樣品的要求和限制。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢