掃描電鏡中的樣品表面充電問題及其解決方法
日期：2023-07-25
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，樣品表面充電是一個常見的問題。當樣品處于高真空環(huán)境下，并且受到來自電子束的照射時，可能會發(fā)生表面電子的發(fā)射和重新組合，導致樣品表面帶電。這會導致圖像失真、信號衰減以及可能損害樣品。以下是一些常見的解決方法：
導電涂層：在SEM觀察之前，對非導電樣品進行導電涂層處理是一種常見的方法。通過在樣品表面涂覆一層導電性材料，如金屬（例如金或鉑）、碳等，可以有效地消除表面充電問題。這種導電涂層可以吸收或傳導表面電子，防止樣品表面帶電。
低電流模式：減小電子束的能量和電流，特別是在初期尋找焦點和條件時，可以減少表面充電。逐漸增加電流，直到獲得足夠的信號強度為止。
使用低加速電壓：降低電子束的加速電壓也有助于減少樣品表面充電。較低的加速電壓會減少電子束的穿透深度，從而減少與樣品相互作用的電子數量，減輕表面充電問題。
脈沖模式：一些SEM設備支持脈沖模式，其中電子束在照射樣品之間會暫時關閉。這有助于減少表面電子的累積和樣品表面的充電。
氣體環(huán)境：在觀察某些樣品時，可以考慮使用環(huán)境SEM或氣體環(huán)境SEM。這些方法允許在樣品表面形成一個較輕的氣氛，有助于減少表面充電現象。
調整儀器參數：通過調整SEM的工作參數，如電子束的掃描速度、電子束的偏轉和對焦等，可以優(yōu)化圖像質量和減少表面充電問題。
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作者：澤攸科技