如何進行掃描電鏡的能譜分析
日期：2023-05-23
進行掃描電鏡（SEM）的能譜分析通常使用能量散射譜（EDS/EDX）。以下是進行掃描電鏡能譜分析的一般步驟：
準備樣品：
樣品應制備成薄片、粉末或固體表面形式，以便電子束可以與樣品相互作用并產生特征的X射線譜。
確定合適的加速電壓和探針電流：
根據樣品類型和要分析的元素，選擇適當的加速電壓和探針電流。較高的加速電壓可以提供更好的透射能力，而較低的探針電流可以減少樣品的損傷。
調整EDS系統參數：
在SEM中安裝并連接EDS系統，確保系統正常工作。
設置EDS系統的參數，如放大倍數、信號積分時間和能譜范圍。
能譜采集：
將電子束聚焦在感興趣的區域上，并開始能譜采集。
在選定的位置上，進行一定時間的X射線能譜采集，以獲取樣品產生的X射線譜。
數據分析和解釋：
使用EDS軟件對采集到的能譜數據進行分析和解釋。
根據譜圖中的峰值位置和強度，確定元素的存在和相對含量。
進行譜峰的歸屬和定量分析，以確定樣品中各元素的種類和含量。
確認和驗證：
根據分析結果，確認樣品中存在的元素，并與預期結果進行比對。
可以使用標準樣品進行驗證，確保分析的準確性和可靠性。
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作者：澤攸科技