什么是掃描電子顯微鏡，澤攸科技小編給大家介紹一下掃描電子顯微鏡。

1930年代和1940年代，除透射電子顯微鏡外，其他類型的電子顯微鏡，如掃描、發射、反射、場發射等也相繼在德國提出和試驗。 經過一段時間的斷斷續續，掃描電鏡再次受到關注，在解決了一些關鍵技術問題后，發展迅速。 他可以直接觀察塊狀物質的表面，并提供具有很強三維效果的圖像。 因此，在科研和工業中得到了廣泛的應用。 它已成為生產量很高的電子顯微鏡。接下來澤攸科技小編帶大家深入探討一下，什么是掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察方法。 它利用聚焦的很窄的高能電子束對樣品進行掃描，通過電子束與物質的相互作用，激發各種物理信息，對信息進行采集、放大、再成像，以觀察表征物質的微觀形態。

掃描電子顯微鏡基本的功能仍然是放大鏡的功能，它實現了人眼和光學顯微鏡無法觀察到的樣品更詳細的特征。 廣泛應用于材料科學研究、生物學、工業制造等領域。

掃描電子顯微鏡的制造是基于電子和物質的相互作用。 當一束高能入射電子轟擊材料表面時，激發區會產生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續譜X射線、背散射電子、透射電子以及可見光、紫外光和紅外光。 該區域產生的電磁輻射。 同時，還可以產生電子-空穴對、晶格振動（聲子）和電子振蕩（等離子體）。 原則上，可以利用電子與物質的相互作用來獲得被測樣品本身的各種物理化學性質，如形貌、成分、晶體結構、電子結構、內部電場或磁場等。

掃描電子顯微鏡對我們來說似乎有點陌生，但它存在于我們的生活中。 我們需要進一步了解它，才能更好地利用它為人類創造價值。 希望今天小編介紹的關于什么是掃描電子顯微鏡的內容能給您的生活帶來更多的幫助，從而在生活中取得進步。