掃描電鏡圖像的分辨率和清晰度受以下幾個因素的影響：

加速電壓：加速電壓是指施加在電子束上的電壓。較高的加速電壓可以產生更短的波長電子，從而提高圖像的分辨率。

電子束的聚焦性能：SEM中的聚焦系統可以調整電子束的聚焦程度。更好的聚焦性能能夠產生更小的電子束斑點（beam spot），從而提高圖像的分辨率和清晰度。

樣品表面的導電性：樣品表面的導電性會影響電子束與樣品的相互作用。對于非導電樣品，通常需要進行金屬涂覆或其他導電處理，以減少電荷積聚和圖像失真。

信號檢測系統：SEM中使用的信號檢測系統，如次級電子（SE）和反射電子（BSE）探測器，以及能量散射譜儀（EDS）和電子背散射衍射儀（EBSD），會對圖像的清晰度和分辨率產生影響。

樣品準備和處理：SEM圖像的分辨率和清晰度還受樣品的準備和處理方法影響。樣品制備技術的選擇以及樣品的表面平整度、清潔度和結構性特征等因素，都會對圖像的質量產生影響。

操作者技術和參數設置：操作者的技術水平以及選擇合適的操作參數，如掃描速度、掃描線數等，對SEM圖像的分辨率和清晰度也具有重要影響。

綜上所述，SEM圖像的分辨率和清晰度受多個因素的影響，包括加速電壓、電子束聚焦性能、樣品表面導電性、信號檢測系統、樣品準備和處理、操作者技術等。優化這些因素可以提高SEM圖像的質量和解析度。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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