掃描電鏡是一種非常強大的顯微鏡，可以觀察樣品的表面形貌和結構。以下是掃描電鏡觀察樣品的一般步驟：

準備樣品：選擇合適的樣品，進行制備和處理。不同樣品需要不同的處理方法，例如去除表面氧化層、導電涂層或制備合適的切片等。

定位樣品：將樣品放置在掃描電鏡樣品臺上，調整樣品的位置、角度和焦距，以便于觀察。

設置參數：根據樣品類型和觀察目的，設置掃描電鏡的參數，包括加速電壓、電流、探針尺寸和掃描速度等。

掃描觀察：通過掃描電鏡的電子束掃描樣品表面，探測樣品表面反射的電子信號，并通過計算機處理后形成圖像。可以使用不同的掃描模式觀察樣品，例如二次電子成像（SEI）和反射電子成像（BSE）等。

分析結果：通過掃描電鏡獲取的圖像可以進行各種形貌和結構分析，例如粒徑分布、表面形貌、晶體結構和化學成分分析等。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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