掃描電鏡成像過(guò)程中如何調(diào)整焦距？

在掃描電鏡（SEM）成像過(guò)程中，調(diào)整焦距（Focus）是獲得清晰圖像的關(guān)鍵步驟。

如何判斷掃描電鏡圖像是否失真？

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否失真，可以從以下幾個(gè)關(guān)鍵方面入手進(jìn)行識(shí)別和判斷：

掃描電鏡（SEM）圖像中出現(xiàn)條紋（stripes, banding）或顆粒感（grainy texture, noise），可能源于以下幾類問(wèn)題，分別涉及設(shè)備、樣品、成像參數(shù)和環(huán)境因素。

掃描電子顯微鏡（SEM）的成像質(zhì)量對(duì)使用環(huán)境高度敏感。

在掃描電子顯微鏡（SEM）中，保存和導(dǎo)出圖像是實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)管理的重要步驟。

判斷掃描電鏡（SEM）圖像是否聚焦良好，主要依靠觀察圖像的細(xì)節(jié)清晰度和邊緣銳利度。

在掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中，亮度和對(duì)比度并不只是視覺(jué)效果上的調(diào)節(jié)項(xiàng)，它們實(shí)際代表了樣品物理特性的某些方面，主要取決于成像模式（如二次電子、背散射電子等）。

校準(zhǔn)掃描電鏡（SEM）的倍率是確保圖像尺寸測(cè)量準(zhǔn)確可靠的關(guān)鍵步驟。