Nano Letter：澤攸科技原位系統(tǒng)應(yīng)用于固態(tài)氧鈉電池

澤澤攸科技原位系統(tǒng)應(yīng)用于固態(tài)氧鈉電池，PicoFemto系列原位樣品桿在該研究中作為電池模型的載體，穩(wěn)定而精確完成了測樣區(qū)域選擇以及施加電場等任務(wù)。值得一提的是，澤攸科技獨創(chuàng)的雙用載

Nano Energy：澤攸科技原位桿應(yīng)用于堿金屬離子電池

澤攸科技的PicoFemto系列原位樣品桿在該研究中作為電池模型的載體，穩(wěn)定而精確完成了測樣區(qū)域選擇以及施加電場等任務(wù)。值得一提的是，澤攸科技獨創(chuàng)的雙用載樣方案，相比于傳統(tǒng)的STM探針

澤攸科技原位樣品桿應(yīng)用于半導體器件，利用STM-TEM原位樣品桿搭載單根氧化鋅納米線，并在TEM中原位操縱、測量和觀測。研究表明，當我們使用STM探針對氧化鋅納米線施加2.63%的應(yīng)力后，該材料

澤攸科技原位桿應(yīng)用于鋰電研究，利用高分辨TEM結(jié)合掃描探針式原位樣品臺，原位觀測了SnS2的充放電過程。研究表明，鋰離子電池的充電過程是一個快速發(fā)生的兩相反應(yīng)。在通電后，SnS2與Li離

利用掃描探針式原位樣品桿在透射電子顯微鏡（TEM）中精確調(diào)節(jié)CNTs缺陷的技術(shù)。這種技術(shù)不僅調(diào)節(jié)精確、過程可逆并且還具有較高重復(fù)性，對基于CNTs的諧振器器件研發(fā)意義重大。

澤攸科技原位TEM-STM系統(tǒng)原位焊接，中國石油大學、燕山大學和西安交通大學聯(lián)合公開了一項在環(huán)境透射電子顯微鏡（ETEM）中利用原位亞納米操縱探針實現(xiàn)納米陶瓷材料焊接的技術(shù)，相關(guān)研究成

澤攸科技原位TEM樣品桿在二維儲能，為了弄清楚幾何位點在鋰/鈉離子電池中發(fā)揮的作用，研究者們應(yīng)用了原位X射線衍射、原位X射線吸收、原位拉曼光譜、原位紅外光譜、原位核磁共振等等研究

原位透射電子顯微鏡光學-光電測量系統(tǒng)應(yīng)用案例，ZnO是一種重要的II-VI族半導體材料。它擁有高達60 meV的激子結(jié)合能，以及25 meV的熱激活能。ZnO納米線可以被用于制造導波管，納米激光器，光探