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澤攸科技ZEM系列掃描電鏡 | 稀土鎂合金在不同載荷下的變形與失效機制

澤攸科技ZEM系列掃描電鏡是一款集成度高、便攜性強且經(jīng)濟實用的科研設備。它具備快速抽真空、高成像速度、多樣的信號探測器選擇，適用于形貌觀測和成分分析，還能適配多種原位實驗需求。

無論是通過ZEM系列掃描電子顯微鏡觀察微觀結(jié)構(gòu)，還是借助JS系列臺階儀量化薄膜參數(shù)，這些工具的價值都在于讓工程決策建立在可驗證的數(shù)據(jù)之上。

澤攸科技作為中國本土的精密儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國內(nèi)外用戶的重磅研究成果提供了技術(shù)支持。

以澤攸科技的二維材料轉(zhuǎn)移臺，它融合成像、加熱、吸附、多軸協(xié)作等功能，是實驗室構(gòu)建范德華異質(zhì)結(jié)構(gòu)的重要工具。

澤攸科技作為中國本土的儀器公司，是原位電子顯微鏡表征解決方案的一流供應商，推出的PicoFemto系列的原位透射電子顯微鏡表征解決方案，陸續(xù)為國內(nèi)外用戶的重磅研究成果提供了技術(shù)支持。

從NanoMi到澤攸科技，我們看到了一條清晰的技術(shù)進化路徑。NanoMi以開源的精神，向我們揭示了電子光學的第一性原理：用靜電場構(gòu)建透鏡，用電壓控制軌跡。

澤攸科技JS系列臺階儀作為國產(chǎn)高精度表面測量設備的代表，憑借其創(chuàng)新的技術(shù)架構(gòu)、靈活的應用場景及可靠的測量性能，可以對微納結(jié)構(gòu)進行膜厚和臺階高度、表面形貌、表面波紋和表面粗糙度等的測量。

長期以來，電子顯微鏡被視為精密儀器皇冠上的明珠，但其龐大的體積、高昂的造價以及復雜的維護體系，使其成為一個令普通實驗室望而卻步的“黑盒”。