澤攸科技誠邀您光臨第十三屆國際分析測試與實驗室技術設備（廈門）展覽會
澤攸科技誠邀您光臨第十三屆國際分析測試與實驗室技術設備（廈門）展覽會
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
澤攸科技誠邀您光臨第十三屆國際分析測試與實驗室技術設備（廈門）展覽會
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
澤攸科技誠邀您光臨2021年第五屆中科院電鏡技術聯盟交流講座
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
澤攸科技誠邀您光臨2021年第十六屆國際真空展覽會,我司將于2021年5月26日至28日在北京國家會議中心參加2021年第十六屆國際真空展覽會，展位號：E13
MORE INFO → 公司新聞 2021-07-12
ZEM15國產臺式掃描電鏡亮相松山湖材料實驗室，現場接受demo檢驗，體積僅有一臺臺式電腦大小的ZEM15臺式掃描電鏡就是在這樣的實驗環境下現場接受demo檢測
MORE INFO → 公司新聞 2020-09-25
國產臺式掃描電子顯微鏡來了，ZEM15臺式掃描電鏡的電子光學系統、探測器、電路控制系統、信號采集系統和操作軟件均為澤攸科技自主研制。創立的電子光學系統設計，使拍攝圖片具有更高的
MORE INFO → 公司新聞 2021-08-14
安徽澤攸科技有限公司的PicoFemto系列原位透射電鏡測量系統一經推出便憑借其強大的功能、極致的參數指標和超高的穩定性獲得國內外用戶認可，并協助用戶在各類頂尖學術期刊上發表
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
International Microscopy Congress (IMC) 被譽為顯微鏡領域的奧林匹克，每四年舉辦一次。會議匯聚了一批 透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡（含掃描隧道顯微鏡，原子力顯微
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15
MEMS-STM-TEM一體化樣品桿，基于STM納米操縱技術的原位解決方案。這類方案利用集成于原位樣品桿頭部的掃描探針單元，結合I-V測量、光學-光電測量、低溫或者力學測量單元，在TEM中實現原位亞
MORE INFO → 公司新聞 2018-08-15